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CH-1-S型薄膜测厚仪--国产放大图片

产品价格:1   元(人民币)
上架日期:2012年11月7日
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深圳市沃霖电子有限公司

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详细介绍:

CH-1-S型薄膜测厚仪产品简介
    本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、技术指标
    量    程:0-1mm 
    分 度 值:0.001mm
    上测头曲率半径:15-50mm
    测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N
    测量精度:100vm以内<1vm 


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