详细介绍: 泰立仪器专业代理美国GE工业无损检测。
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美国GE粗晶探头
纵波探头能适用于检测粗晶材料、原始的铸造材料,奥氏体和奥氏体焊缝等。
对于普通探头,由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致,这样容易造成缺陷漏检。所以,检测粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部分奥氏体焊缝,并得到一些满意的结果,这主要取决于被检测材料的声学特性。我们一直致力于解决这个问题,我们选择不同焦点的单晶探头和TR探头进行实验,得到检测粗晶材料的最佳探头参数。
与此同时,我们得到了奥氏体材料制造商的大力支持。根据我们的经验和实验,我们针对各种粗晶粒材料设计了相应的探头,这些探头都取得了最佳的效果。此外,这些测试结果还获得了最佳信噪比,并且所有的粗晶探头都通过纵波探伤。
具有可更换保护膜的直探头
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频率(MHZ)
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接触面(mm)
|
尺寸Φ(mm)
|
|
K 0.5 S
|
0.5
|
40
|
34
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高阻尼
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|
K 1 S
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1
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40
|
34
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高灵敏度
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K 1 SM
|
1
|
33
|
28
|
非常好的信噪比
|
B 0.5 SL
|
0.5
|
40
|
34
|
非常好的灵敏度
|
B 1 SL
|
1
|
40
|
34
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高阻尼,高信噪比
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K 1 SC
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1
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30
|
24
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复合材料压电晶片
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K 1 SC
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2
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30
|
24
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最好的灵敏度和信噪比
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纵波斜探头—单晶系列,复合材料压电晶片
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频率(MHZ)
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接触面(mm)
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角度( °)
|
深度范围
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要求的探头线
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WRY 45
WRY 60
WRY 70
WSY 45-2
WSY 60-2
WSY 70-2
WSY 45-4
WSY 60-4
WSY 70-4
|
2
2
2
2
2
2
4
4
4
|
48 x 25
48 x 25
48 x 25
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 13
|
45
60
70
45
60
70
45
60
70
|
5 - 100
5 - 80
5 - 55
6 - 25
4 - 20
3 - 15
3 - 30
3 - 20
2 - 15
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} MPKL 2
} MPKL 2
} MPKL 2
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双晶系列纵波斜探头—复合材料压电晶片
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频率(MHZ)
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接触面(mm)
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角度( °)
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深度范围
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VRY 45
VRY 60
VRY 70
VSY 45
VSY 60
VSY 70
|
1,8
1,8
1,8
4
44
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53 x 29
53 x 29
53 x 29
30 x 15
30 x 15
30 x 15
|
45
60
70
45
60
70
|
15 - 70
10 - 60
5 - 45
2 - 30
1.5 - 20
1.5 - 20
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} SEKL 2
} SEKN 2
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泰立仪器专业代理美国GE工业无损检测。
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