简要说明：45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。

45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。
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标准功能 45MG仪器在使用基本配置时，是一款易懂易学、操作简便的测厚仪，操作人员经过最基本的培训，就可完成最常用的测厚应用。不过，45MG仪器添加了可选软件选项和探头后，就会变成一款极为高级的测厚仪，可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外，大多数选项可以在购买仪器时分别购买，或在日后需要时购买。 与所有Olympus双晶探头兼容，可对内部腐蚀的金属的厚度进行测量 最小值/最大值模式 两个报警模式 差值模式 时基B扫描 缩减率 增益调整（标准、高、低） 密码式仪器锁定 带有可选橡胶保护套和支架的45MG仪器

可选功能 只需几次按键，即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项，从而跻身于工业领域中用途最广泛的测厚仪行列。 回波到回波/穿透涂层：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层。 单晶： 这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。 单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。 数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。 带有波形调整功能的实时A扫描： 用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中最大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、首个回波空白、范围及延迟参数。

抵御恶劣环境的能力 坚固耐用，设计符合IP67标准。 爆炸性气氛：可在国家防火协会规范（NFPA 70）500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中安全操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。 防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。 防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。 宽泛的操作温度范围 可选的带有支架的橡胶保护套	室内显示设置，可选A扫描模式
简便操作的设计理念 可只用右手或左手操作的简洁的键区 可直接访问大多数功能的简便易行的操作界面 使用内置MicroSD存储卡和可插拔MicroSD存储卡的存储方式 USB通讯端口 可存储475000个厚度读数或20000个波形的可选字母数字式数据记录器 默认或自定义单晶探头设置（可选） 密码保护方式的仪器锁定 彩色透反QVGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有极佳的清晰度	室外显示设置，可选A扫描模式

测量
双晶探头测量模式	从激励脉冲后的精确延迟到第一个回波之间的时间间隔。
自动回波到回波（可选）	在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
穿透涂层测量 （可选）	利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头）
单晶探头测量模式（可选）	模式1：激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔。 模式2：延迟块回波与第一个底面回波之间的时间间隔（使用延迟块或水浸式探头） 模式3：在激励脉冲之后，位于第一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟块探头或水浸式探头）。
厚度范围	0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量最全的范围需要使用单晶选项）
材料声速范围	0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可选择）	低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 标准分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 单晶选项：0.001毫米（0.0001英寸）
探头频率范围	标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

一般规格
操作温度范围	-10 °C～50 °C（14 °F～122 °F）
键盘	密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈
机壳	防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。
外型尺寸（宽 x 高 x 厚）	总体尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm
重量	430.9克
电源	3节AA电池/USB电源供应
电池工作时间	3节AA碱性电池：20到21小时 3节AA镍氢电池：22到23小时 3节AA锂离子电池：35到36小时
标准	设计符合EN15317标准

显示
彩色透反QVGA显示	液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
检波	全波、RF波、正半波、负半波（波形选项）

输入/输出
USB	2.0从接口
存储卡	最大容量：2 GB可插拔MicroSD存储卡

内置数据记录器（可选）
数据记录器	45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
容量	475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形
文件名称和ID编码	32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码
文件结构	6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构
报告	机载报告总结了数据统计和最小值/最大值

标准配置

• 45MG数字式超声测厚仪
• AA碱性电池
• 2阶试块和耦合剂
• USB线缆
• 用户手册，存于CD盘上
• 测量功能：最小值/最大值模式、两个报警模式、差值模式、B扫描、缩减率、可编程的锁定功能

软件选项

• 45MG-SE (U8147022)：单晶选项，使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头
• 45MG-HP (U8147023)：单晶高穿透选项，使用频率范围为0.5 MHz～30 MHz的单晶探头
• 45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂层
• 45MG-WF (U8147019)：波形选项
• 45MG-DL (U8147020)：内置数据记录器，包含GageView接口程序

选购附件

• MICROSSD-ADP-2GB (U8779307)： 2 GB外置MicroSD存储卡
• 45MG-RPC (U8779676)： 带支架的橡胶保护套

回波到回波 测厚仪使用多个底面回波，显示不计涂层厚度的实际金属厚度： 自动回波到回波 手动回波到回波（仅出现于A扫描选项），可进行以下操作： 增益调整 扩展空白 回波空白

穿透涂层技术 使用单个底面回波测量金属的实际厚度。使用这个技术可以分别显示金属和涂层的厚度。这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，要得到金属的厚度，无需去掉表面的漆层和涂层。穿透涂层测量技术使用D7906-SM、D7906-RM和D7908双晶探头。

显示A扫描的自动回波到回波模式	显示涂层厚度和钢材料厚度的穿透涂层模式（波形选项未被激活）
调整第一个回波空白的手动回波到回波模式	显示可选波形的穿透涂层模式

单晶软件选项 用户使用单晶软件选项，可以完成分辨率高达0.001毫米或0.0001英寸的极为精确的厚度测量。可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。 大多数薄材料和厚材料 壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料 壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金属容器、钢圈板、机加工部件 汽缸孔、涡轮叶片 玻璃灯泡、瓶子 薄壁玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料 曲面部分或内圆角半径较小的容器

单晶高穿透软件选项 用户使用这个选项可在使用低频单晶探头（低到0.5 MHz）的情况下，测量橡胶、纤维玻璃、铸件及复合材料等较厚或声波衰减性较强的材料。这个选项包含单晶选项。 大多数较厚或声音衰减性较强的材料 厚铸造金属部件 厚橡胶轮胎、履带 玻璃纤维船体、储存罐 复合材料板 对于频率范围为0.5 MH到1.0 MHz的探头，分辨率为0.01毫米（0.001英寸）

可选数据记录器和PC机接口

45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。数据记录器选项包含GageView接口程序。 数据记录器选项 内置存储容量为475000个厚度读数，或20000个带有厚度读数的波形。 32位字符的文件名称 20位字符的ID#（TML#）编码 6个文件格式：递增型、序列型、带自定义点的序列型、两维栅格、锅炉型及通过GageView在PC机上手动创建的文件格式 内置MicroSD存储卡和可插拔MicroSD存储卡 可以在内置和可插拔MicroSD存储卡之间拷贝文件 标准型USB通讯 单晶探头设置的双向传输 机载统计报告 机载DB栅格视图，使用3种可编辑的颜色 GageView接口程序可与45MG仪器通讯，方法是： 通过USB端口 读取MicroSD存储卡上的数据，或在存储卡上写入信息 可将内部文件以与Excel兼容的CSV（以逗号分隔值）格式或.txt格式，直接导出到MicroSD存储卡 在PC机上可以看到以栅格形式出现的数据通过不同颜色清晰地标明超出容差的厚度情况。 可以方便地生成并打印包含测量值、ID编码及其它参数的测量报告。

机载DB栅格视图，使用3种可编辑的颜色 GageView 接口程序 包含在数据记录器选项中 基于Windows的GageView接口程序用于收集、创建、打印及管理来自45MG测厚仪的数据 创建数据集和测量总结 编辑所存数据 显示数据集和测量总结文件。文件包含厚度读数、测厚仪设置值及探头设置值 从测厚仪上下载厚度测量总结，或上传厚度测量总结至测厚仪 将测量总结导出到电子表格及其它程序 收集捕获的屏幕 打印有关厚度、设置表格、统计及彩色栅格的报告 升级45MG软件 下载和上传单晶探头设置文件 在PC机上可以看到以栅格形式出现的数据通过不同颜色清晰地标明超出容差的厚度情况。

带有波形调整功能的实时A扫描

用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中最大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、首个回波空白、范围及延迟参数。