东京精密Accretech uf60 wafter probin machine

探针台是对晶圆上形成的所有芯片进行电气特性的测试的设备。使用这台设备可以对芯片的良品、不良品的进行筛选。

Accretech UF系列基于一个灵活的平台，具有高精度和高刚性，UF系列的一个更好的改进型，在整个装配和线宽越来越小的半导体技术进步过程中，该台设备主要用于晶圆比较薄的工艺。

UF60搭载图像处理系统，实现自动化对齐，装备标准上下料单元，适合测试分立器件的半自动探针台，是一款适合6英寸晶圆/硅片的多用途设备。