基坑测斜仪器

一、用途

HM-CXZ20型基坑测斜仪器是以进口敏感元件为测斜装置，与智能数显测斜仪表组成测斜系统。其内部是以伺服（即力平衡式）为基础的测量系统，其特点精度高、稳定性好、分辨率高，广泛用于以观测土石坝、建筑物基坑、堤防、地下建筑工程、岩石边坡港务工程等土体内部的水平位移变化。是需要观测测量工程中必要的精密测量仪器。

二、主要性能技术指标。

测量范围：0～±30°（与地垂线的夹角）

分辩率：0.0004°

系统精度: ∠0.01mm/500mm

系统总精度：∠±4mm/30m

线性：±0.025%(30°以内)

重复性：±0.025%

导轮间距基准：500mm

测杆尺寸：φ30×660mm

测杆重量：2.35kg

仪表重量：1.5kg（包括可充电电池）

电源消耗：100mA（不使用背光灯）可连续使用30小时

200mA（使用背光灯）可连续使用16小时

数据分组：001-50组

断电数据：保存时间10年

使用环境：-20℃～60℃

抗    渗: 300m(全方位防水防震)

抗    震:20000g(敏感轴方向,其中g为1个单位的重力加速度)