晶圆粗糙度表面形貌测量系统WD4000国产半导体检测设备
晶圆粗糙度表面形貌测量系统WD4000国产半导体检测设备
产品价格:¥3000000.00(人民币)
  • 规格:WD4000系列
  • 发货地:广东深圳
  • 品牌:
  • 最小起订量:1
  • 免费会员
    会员级别:试用会员
    认证类型:企业认证
    企业证件:通过认证

    商铺名称:深圳市中图仪器股份有限公司

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    商品详情
      产品参数
      是否支持加工定制
      是否进口
      操作方式全自动
      型号WD4000系列
      测量系统1厚度和翘曲度测量系统
      测量系统2三维显微形貌测量系统
      测量系统3膜厚测量系统
      测量系统4红外干涉测量系统
      晶圆尺寸4" 、6" 、8" 、 12"
      晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台
      最大移动速度500mm/s
      工作台主体大理石
      隔振台被动式隔振气浮垫
      外形尺寸1500×1500×2000mm
      总重量1500kg
      气源要求0.6MPa; 60L/min
      品牌中图仪器 CHOTEST











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